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反射膜厚仪F20系列

反射膜厚仪/测厚仪/F20系列 世界上畅销的台式薄膜厚度测量系统 只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)应

  • 品牌:Filmetrics
  • 型号:F20系列

反射膜厚仪/测厚仪/F20系列 

畅销的台式薄膜厚度测量系统

 

只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)应用于非晶态多晶硅,CMP电介质玻璃和塑料厚度硬涂层厚度集成电路故障分析,,铟锡氧化物与透明导电氧化物医疗设备金属厚度测量有机发光显示器眼科设备涂层有机保焊剂/铜表面处理聚对二甲苯涂层光刻胶多孔硅制程薄膜折射率和消光系数硅晶圆薄膜太阳光伏半导体教学实验室卷式涂层


Filmetrics F20*是监测薄膜沉积的有效工具,可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口,实时监控长晶速度,实时测量膜厚、n 、k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头,同时测量三个样品,有三种不同波长选择( 波长范围从可见光380nm 至近红外1700nm); 

主要特点:

*测量精度高,优于1% ; 
*测量速度快,几秒钟内可完成测量; 
*整套设备可放置在沉积室外; 
*操作简单,使用方便; 
*价格便宜

 

应用领域:

*分子束外延MBE; 
*金属有机物化学气相沉积MOCVD; 
*材料研究; 
*光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片

额外的好处:

· 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

· 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)

· 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)

· 硬件升级计划

Model

Thickness Range*

Wavelength Range

F20

15nm - 70µm

380-1050nm

F20-EXR

15nm - 250µm

380-1700nm

F20-NIR

100nm - 250µm

950-1700nm

F20-UV

1nm - 40µm

190-1100nm

F20-UVX

1nm - 250µm

190-1700nm

F20-XT

0.2µm - 450µm

1440-1690nm

F3-sX 系列

10µm - 3mm

960-1580nm


型号厚度范围*波长范围
F2015nm - 70µm380-1050nm
F20-EXR15nm - 250µm380-1700nm
F20-NIR100nm - 250µm950-1700nm
F20-UV1nm - 40µm190-1100nm
F20-UVX1nm - 250µm190-1700nm
F20-XT0.2µm - 450µm1440-1690nm
F3-sX 系列10µm - 3mm960-1580nm
*取决于薄膜种类

厚度测量范围*

1nm
10nm
100nm
1µm
10µm
100µm
1mm
10mm

1
F20-UV
F20-UVX
F20
F20-EXR
F20-NIR
F20-XT
F3-sX 系列



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