超大样品兼容性与工业级设计

突破尺寸限制：通过针尖扫描设计结合电动平移台，可无损测量任意尺寸、重量及形状的样品（包括曲面、非平面或超大型工件），解决了传统AFM“放不进、测不准”的工业难题。

高精度扫描头：基于FlexAFM研究级扫描头，配备挠性结构扫描器，提供XY方向100μm扫描范围，线性误差<0.1%，Z向噪音控制<35pm，确保纳米级分辨率。

全自动化与操作便捷性

智能化平移台：XYZ全自动移动控制，支持一键化操作，快速完成各种样品表面的二维和三维形貌测量。

双光学辅助系统：顶视与侧视双500万像素自动对焦摄像头，结合激光自动定位设计，实现更换探针后快速精准定位，无需手动调节激光。

工业环境适应性

防震与稳定性：专为严苛工业环境设计，通过主动式防震结构抵御外界干扰，在半导体车间等场景中验证了长期可靠性。

模块化扩展：支持磁学、电学以及纳米操纵等高级功能。

多功能成像模式

支持静态力/动态力/相对比/磁力/静电力/开尔文探针/压电力等多种模式，兼容液体环境测试，适用于材料电学和力学样本的表征。